Thick800A 鍍層測厚儀：Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

• 企業類型：制造商
• 新舊程度：新
• 原產地：江蘇昆山
• 環境溫度：15℃-30℃
• 管流：50μA-1000μA
• 儀器重量：75KG
• 元素分析：硫(S)到鈾（U）
• 精度：0.005mm

   天瑞光譜分析儀器是屬于大型光學精密一起。以前我國主要依靠進口光譜分析儀，進口的光譜分析儀價格昂貴，耗費國家大量外匯。所以一機都在75年組織了光電式光譜分析儀會戰，從此我國可以自己大量生產大型光譜分析儀。光譜分析儀器結構雖然很復雜，主要由下面四部分組成：光源、分光器（又稱單色器）、接收器（又稱探測器）、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿意的測試結果，必須對儀器各主要部分的作用和原理有所了解。

光譜分析儀的優點

1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來的損耗。

2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。

3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。

4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。

5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。

光譜分析儀的缺點

1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。

2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為國家認證依據。

3.受各企業產品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。

4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。

5.模型需要不斷更新，在儀器發生變化或者標準樣品發生變化時，模型也要變化。

6.建模成本很高，測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。

7.易受光學系統參數等外部或內部因素影響，經常出現曲線非線性問題，對檢測結果的準確度影響較大。

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。


滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

Thick800A 鍍層測厚儀技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

Thick800A 鍍層測厚儀標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

無損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測儀，天瑞鍍層測厚儀

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