華南地區(qū)XRF元素分析儀E-max系列高精度XRF元素分析儀性能符合GB15618-2018《土壤環(huán)境質(zhì)量農(nóng)用地土壤污染風(fēng)險管控標(biāo)準(zhǔn)》和GB3838-2002《地表水環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》中元素限值檢測要求，適用于土壤普查和地表水質(zhì)現(xiàn)場元素檢測分析。

能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動膜厚儀是一款專用于檢測各種異形件，各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個 檢測大量的小部件特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

晶圓測試設(shè)備,XAD-μ-wafer能量色散X熒光光譜儀 多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF是一款專用于超小測量點或極薄涂層的分析測量的儀器，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢。可以測量微電子設(shè)備、高級線路板、連接器、引線框架和晶片的超微小區(qū)域。

晶圓測試設(shè)備是半導(dǎo)體制造過程中的關(guān)鍵設(shè)備之一，主要用于在晶圓級別對集成電路（IC）進(jìn)行電性能測試和質(zhì)量評估。隨著微電子技術(shù)的不斷進(jìn)步，設(shè)備在晶圓尺寸、測試速度和準(zhǔn)確性等方面也不斷發(fā)展，成為現(xiàn)代半導(dǎo)體生產(chǎn)線中重要的環(huán)節(jié)。

高精度XRF元素分析儀利用X射線激發(fā)樣品中的原子，使其發(fā)射出特征熒光X射線。每種元素都有其特定的熒光X射線能量，這些特征X射線被探測器接收后，通過數(shù)據(jù)分析即可確定樣品中各種元素的濃度。

XRF元素定量分析方法E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環(huán)境質(zhì)量農(nóng)用地土壤污染風(fēng)險管控標(biāo)準(zhǔn)》和GB3838-2002《地表水環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》中元素限值檢測要求，適用于土壤普查和地表水質(zhì)現(xiàn)場元素檢測分析。

E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環(huán)境質(zhì)量農(nóng)用地土壤污染風(fēng)險管控標(biāo)準(zhǔn)》和GB3838-2002《地表水環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》中元素限值檢測要求，適用于土壤普查和地表水質(zhì)現(xiàn)場元素檢測分析。

便攜式X射線熒光重金屬分析儀E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環(huán)境質(zhì)量農(nóng)用地土壤污染風(fēng)險管控標(biāo)準(zhǔn)》和GB3838-2002《地表水環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》中元素限值檢測要求，適用于土壤普查和地表水質(zhì)現(xiàn)場元素檢測分析。

石油氯測試儀,便攜式油質(zhì)分析儀、石油硫含量檢測儀:高性能專業(yè)探測器及微型數(shù)字信號多道處理器三大核心技術(shù)的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使便攜式儀器具有與臺式相近的測試性能。